top of page
  • pzubkov11

Семинар совместно с JTAG Technologies -тестирование и диагностика дефектов сложных цифровых плат


Компания JTAG Technologies и Центр ПРИБОРОТЕКА провели обучающий семинар по технологии тестирования и диагностики дефектов сложных цифровых плат.

Технология периферийного сканирования по стандарту IEEE 1149.1 позволяет автоматически создавать тестовые программы для плат, содержащих СБИС.

20 просмотров0 комментариев
bottom of page