чт, 11 июн. | Центр ПРИБОРОТЕКА

Трансляция Вебинара National Instruments о новых приборах

"NI Модульные измерительные решения YEA Engineering" Обзор новых контрольно-измерительных приборов и систем для полупроводниковой промышленности 11 июня, 10-00, длительность семинара 1 час
Регистрация закрыта
Трансляция Вебинара National Instruments о новых приборах

Время и место

11 июн. 2020 г., 10:00
Центр ПРИБОРОТЕКА, Андропова пр-т, 18к5, Москва, Россия, 115432

О событии

 Программа онлайн семинара:   

  1. Обзор           новых источников-измерителей (SMU) c ПЛИС – сочетание           высокоточного источника питания и измерителя, гибкая система           PID регулирования различных параметров, таких как режим           вывода, время апертуры, диапазон силы тока и время отклика
  • Обзор           аппаратной архитектуры многоканальных источников-измерителей
  • Обзор и           демонстрация программного обеспечения NI InstrumentStudio,           набор разработчика для проектирования многоканальных           высокоточных измерительных систем
  • Источники-измерители           YEA Engineering для высоковольтных измерений
  1. Обзор           генераторов/анализаторов цифровых последовательностей NI           PXIe-6570/71 для многоканальных систем. Специализированное           программное обеспечение NI Digital Pattern Editor.
  2. ВЧ/СВЧ           решения National Instruments для автоматизированных испытаний           микроэлектроники.
  3. Многоканальные           контрольно-измерительные комплексы для тестирования           интегральных схем – новинки, технические решения, лучшие           практики
  • Особенности           проектирования и построения многоканальных автоматизированных           испытательных систем
  • Технология           аппаратных триггеров, методология синхронизации
  • Высокоскоростные           измерения и управление частотой обновления
  • Программная           оболочка Sinus для организации автоматизированных           испытательных систем

Ответы на вопросы,         демонстрация оборудования и обсуждение приложений со         специалистами National Instruments и YEA Engineering. 

Регистрация закрыта

Поделиться